К настоящему времени микроэлектроника сформировалась как генеральное схемотехническое и конструктивно-технологическое направление в создании средств вычислительной техники, радиотехники и автоматики.
Основополагающая идея микроэлектроники - конструктивная интеграция элементов электронной схемы объективно приводит к интеграции схемотехнических, конструкторских и технологических решений, которая выражается в тесной взаимосвязи и взаимообусловленности всех этапов проектирования интегральной микросхемы. При этом главным связующим звеном всех этапов проектирования является задача обеспечения высокой надежности ИМС.
Важнейшей задачей схемотехнического проектирования, является разработка быстродействующих и надежных схем, устойчиво работающих при низких уровнях мощности (малая допустимая мощность рассеивания), в условиях сильных паразитных связей (высокая плотность упаковки) и при ограниченных по точности и стабильности параметров элементов. Потенциальная возможность ИМС на этом этапе проектирования оценивается с учетом возможностей выбранного структурно технологического варианта ИМС и его технологической реализации.
Конструктор, стремясь сохранить быстродействие и надежность ИМС на проектном уровне, определяет оптимальную технологию, выбирает материалы и технологические методы, обеспечивающие надежные электротехнические соединения, а также защиту от окружающей среды и механических воздействий с учетом технологических возможностей и ограничений.
При технологическом проектировании синтезируется оптимальная структура технологического процесса обработки и сборки, позволяющая максимально использовать отработанные, типовые процессы и обеспечивать высокую воспроизводимость, минимальную трудоемкость и стоимость с учетом конструкторских требований.
Важным этапом технологического проектирования, направленного на обеспечение качества и надежности ИМС, является разработка операций контроля на всех этапах производства ИМС: входного контроля основных и вспомогательных материалов и комплектующих изделий, контроля в процессе обработки, межоперационного контроля полуфабрикатов и выходного контроля готовых изделий.
Рост степени интеграции и функциональной насыщенности единицы объема изделий микроэлектроники, объективно приводит к микроминитюаризации их исполнения.
Практика показывает, что проблемы, связанные с микроминитюаризацией, комплексно могут быть решены на базе разработки и внедрения новых конструктивно-технологических принципов сборки ИМС и аппаратуры на их основе.
Оптическая обработка информации
Современная практика и
научные исследования требуют измерений высоких и сверхвысоких напряжений — до
10 МВ и больших токов — до 1¸2 МА. Напряжения и токи
при этом могут быть постоянными, переменными, и импульсными с длительностью
им ...
Принцип работы вакуумных люминесцентных индикаторов
Во всех системах, где требуется
представить информацию в форме, удобной для визуального восприятия человеком,
применяются средства отображения информации (СОИ). Одной из основных частей СОИ
является индикатор — электронный прибор для преоб ...
О возможностях физической нереализуемости космологической и гравитационной сингулярностей в общей теории относительности
Обоснована возможность нереализуемости космологической
сингулярности Большого Взрыва Вселенной непосредственно в ортодоксальной ОТО.
Показано отсутствие ограничения массы астрономического тела, самосжимающегося в
СО Вейля, если тело являет ...
История вопроса и современное состояние знаний в области эми.
Обзор и сравнительный анализ существующих стендов.
Технический объект и предмет технических наук.
Классификация электрической дуговой сварки.
Описание процесса зонной плавки и ее математическая модель.